Форма поиска

 

110-7240

Номер заявки: 
110-7240
Подразделение: 
Физический
Тема: 
Исследование кристаллов и кристаллических наноструктур методами оптической, акустической, ЯМР и тепловой спектроскопии
Тип: 
1
Цель: 
Определение электронных уровней в объемных кристаллах, в том числе в полупроводниковых пленках, и в наногетероструктурах различной мерности (квантовые ямы, квантовые нити, квантовые точки), включая гибридные системы. Основны� �и объектами исследования являются системы на основе полупроводников групп III-V и II-V, в том числе наногетероструктур с магнитной компонентой. Исследование экситонного и других механизмов излучения, спектрального состава и временных характеристик люминенсценции гетероструктур. Установление оптическими методами качества и реальной строения наногетероструктур, характеристик интерфейсов, в том числе влияния на них вертикальной диффузии компонентов ьв процессе роста. Изучение влияния на спектры излучения температуры и уровня оптическ� �го возбуждения. Изучен�! �е влияния на электронные уровни и оптические свойства наногетероструктур внешнего магнитного поля (магнитооптические измерения). Исследование объемных кристаллов, кристаллических пленок и наногетероструктур методом комбинационного рассеяния света для установление их фононного спектра, плазмон-фононных резонансов, распределения напряжений в кристаллических пленках и наногетероструктурах. Изучения строения кристаллической решетки пленок и наноструктур с помощью электронной и ионной микроскопии высокого разрешения и сопоставле� �ие результатов с данными оптических измерений. Определение строения и оптических свойств фотонных кристаллов различного типа. Исследования особенностей плавления и кристаллизации легкоплавких металлов и их сплавов в условиях ограниченной геометрии; Исследования процессов сорбции-десорбции и фазовых переходов испарение-конденсация в нанокомпозитах на основе пористых матриц; Исследования процессов самоорганизации и образования наноструктур в химически активной плазме с конденсированной дисперсной фазой; Получение тонких пленок (толщина 20 - 100 нм) магнит! остр�! �кционных материалов и исследование частотно-полевых характеристик излучаемых ими ультразвуковых колебаний. Для реализации исследований по проекту планируется использовать следующие оборудование Ресурсных центров СПбГУ: Междисциплинарный ресурсный центр по направлению «Нанотехнологии» · аналитический просвечивающий электронный микроскоп Libra 200 FE · сканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом Zeiss Merlin Оптические и лазерные методы исследования вещества · Спектрометр КРС исследовательского класса T64000 (Horiba) · Эк� �пресс рамановский спектрометр SENTERRA (Bruker) Наноконструирование фотоактивных материалов · Оптический криостат замкнутого цикла со сверхпроводящим магнитом Cryogenic CFM-7TS-H2-CFVTI-25-0 Центр диагностики функциональных материалов для медицины, фармакологии и наноэлектроники · Импульсный Фурье ЯМР спектрометр Bruker AVANCE IIITM · Спектрометр динамического рассеяния света Photocor Complex Магнитно-резонансные методы исследования · ЯМР/ЯКР спектрометр Tecmag Redstone · ЭПР спектрометр Bruker Elexsys E580 Рентгенодифракционные методы исследования · Монокристальный дифрактомет� � Agilent Technologies
Руководитель: 
Серов Алексей Юрьевич
E-mail руководителя: 
Дата начала работ: 
2017-01-24
Дата окончания работ: 
2018-12-31
Количество ВМ: 
2
Используемые ВМ: 
110-7240-696
110-7240-636
ОС ВМ: 
Вычислительные системы: 
ПО: 
Статус: 
ВЫПОЛНЯЕТСЯ